가격에 민감한 고볼륨 프로젝트를 위한 IDS 카메라 제품군

8. 가격에 민감한 고볼륨 프로젝트를 위한 카메라 제품군

IDS의 신형 카메라군 uEye XLE는 대량 생산과 가격 민감도가 높은 프로젝트를 위해 특별히 개발되었다. 이 산업용 카메라는 공간 효율적 디자인, USB3 인터페이스, USB3 비전 표준 서포트를 통해 손쉽게 어느 머신 비전 시스템에 통합된다. C 마운트/CS 마운트 또는 S 마운트 렌즈 포트가 있는 보드타입 카메라와 코팅된 플라스틱 하우징이 있는 버전 중에서 선택할 수 있다. 이 모델은 감광성 5MP 센서 ON Semiconductor AR0521 이 장착되어 열악한 조명 조건에서도 뛰어난 성능을 제공한다.

이 카메라군은 소형 장치 엔지니어링, 측정 기술 또는 표면 검사와 같은 전통적인 산업 어플리케이션에 사용하기에 적합하다. 이 모델은 콤팩트한 디자인 덕분에 임베디드 비전 솔루션과 같이 협소한 공간에 사용된다. 이 카메라는 가격 최적화된 디자인으로 인해 가격이 중요한 산업 분야에 사용할 수 있다.

uEye XLE의 모든 모델은 USB3 인터페이스(Superspeed USB, 5 Gpbs)를 갖추고 있으며, Genicam과 100% 호환된다. 따라서 이 카메라는 원칙적으로 USB3 비전 표준을 지원하는 모든 소프트웨어를 사용할 수 있다. IDS는 사용자 편익 극대화를 위해 IDS peak를 사용할 것을 권장한다. 무료 SDK는 소스코드 샘플에서 전송 계층까지 필요한 모든 구성 요소가 포함되어 있어 고객이 바로 자체 어플리케이션을 개발할 수 있다.

산업용 품질 보장을 위한 프라운호퍼 비전 기술의 날

‘프라운호퍼 비전 기술의 날’은 실무 중심의 머신 비전 기술과 광학 측정 기술의 스펙트럼을 제공하며,최신 기술을 반영한다.그 외에 현재 구현된 어플리케이션을 설명하고 미래에 대한 새로운 전망을 제시하는 행사이다.

주제 및 기술

표면 측정,검사 및 특성화

•스트럭처링 표면,텍스처링 표면,광택 표면,반사 표면,컬러 표면,주름진 표면,거칠기, 마이크로 구조 및 나노 구조; 오염 및 입자 검출

•편향 측정,공초점 측정 기술,초점 변화,백색광 간섭 측정,타원 측정 등의 기술

이미지 처리의 기계 학습

•기초 및 방법

•외관 검사 및 표면 검사와 3D 측정 기술의 어플리케이션

초분광 이미지 처리

•기초,응용 및 멀티 센서 장치

•재료 분류

광학 3D 측정 기술

•3D측정

•고해상 및 하이 다이내믹 3D 측정 기술

•인라인 3D 형상 검사

•3D점구름 평가

•모델 기반 측정 및 검사

•보조 시스템 및 검사 시스템

•딥러닝을 이용한 3D 표면 분류

복합 섬유 부품, 복합 재료 부품,평면 부품 검사를 위한 표면 아래 및 재료 내부 측정 및 검사, 위치 검사,층 두께 측정,재료 분류 등

•X선 컴퓨터 단층 촬영

•열 흐름 열 화상

•테라헤르츠 측정 기술

•와전류

•고주파 레이더

계획 중인 날짜: 2021년 3월 프라운호퍼 X선 기술 개발 센터 EZRT.