센서가 측정 프로세스의 효율을 높인다

한 3차원 측정기 측정기술 공급자가 새로운 센서를 이용하여 측정 프로세스의 효율을 높이고자 한다. 이때 중요한 것은 센서를 측정 소프트웨어에 통합하는 것이다.

높은 유연성과 측정 효율성 – 이는 ZEISS 센서장치의 최신기술이 추구하는 바이다. 지난 4월 독일 슈투트가르트에서 열린 Control 2018 박람회에서 ZEISS가 새로운 센서를 선보였다. 그 센서는 바로 거칠기 측정센서인 ZEISS ROTOS와 비 접촉센서 ZEISS DotScan이다.

ZEISS에 따르면 개선된 이 새로운 거칠기센서 ZEISS ROTOS는 복잡한 공작물의 표면 파상도와 거칠기를 클램핑 변경 없이 한 번의 측정 프로세스로, 표준에 맞게 3차원 측정기에서 검사할 수 있다. 이 새로운 기술로 한 번의 프로세스로 도면에서 모든 표면 거칠기 매개변수를 파악하는 것이 단순화되고 가속화되었다. 이 센서로 인해 치수 공차, 형상 공차, 위치 공차 시험을 거칠기 특성 값 모니터링과 한 측정기에서 측정할 수 있다. 별도의 스타일러스 장치를 통해 파상도와 거칠기 같은 측정을 전용 측정기가 아닌 3차원 측정기에서 CNC를 통해 그러한 값을 산출할 수 있다.

거의 모든 특성을 측정한다

신형 ZEISS ROTOS의 구조는 공작물의 거의 모든 특성을 측정할 수 있다. 피벗 축을 통해 사용 가능한 다수의 프로브 암으로 깊은 보어 홀과 오목한 표면을 측정할 수 있으며, 오버헤드 측정도 큰 문제가 되지 않는다. ZEISS에 따르면 표면 매개변수 프로그래밍은 간단하고 빠르다. 센서가 측정 소프트웨어인 ZEISS CALYPSO에 완전히 통합되었기 때문이다. 이 새로운 기술이 사용자에게 몇 가지 장점을 제공한다. ZEISS는 거칠기 측정을 위한 별도의 장치가 아니라 생산에 수반되는 측정에 투자했고, 하나의 장치로 효율적으로 측정할 수 있게 되었다.

ZEISS O-INSPECT

멀티센서 측정기 ZEISS O-INSPECT를 이용하여 지금보다 훨씬 빠르고 예민하게, 반사되는 명암이 뚜렷하지 않은 표면을 검사할 수 있다. ZEISS는 올해 5월부터 모든 새로운 장치에 기본 사양으로 공초점 백색광 센서인 ZEISS DotScan을 장착하고 있다. 5월 이전에 구입한 측정기는 기존의 기술적 전제조건을 바탕으로 크로마틱 포커스 센서 CFS로 작동하거나 이 센서를 추가 장착할 수 있다.

ZEISS DotScan 센서로 전환하는 것은 멀티 센서 측정장치의 모든 모델에 적용되며 다음과 같은 몇 가지 장점을 제공한다. 사용자는 필요에 따라 CFS 센서와 달리 ZEISS DotScan을 직접 갈아 끼우거나 뺄 수 있어, 특히 다양한 제품을 생산하는 업체는 시간절감과 유연성을 높일 수 있다. 이 센서는 세 가지 크기, 즉 측정 범위 1, 3, 10mm로 구입할 수 있다. 이제 사용자는 ZEISS DotScan으로 인해 광학 스캔 시에도 ZEISS O-INSPECT에서 로터리 테이블을 사용할 수 있다. 이는 CFS 센서가 지금까지 제공하지 않던 기능이다. ZEISS DotScan을 사용으로 인한 시간절감은 상당히 크다. 이 센서의 측정속도는 다양한 요소에 따라 100 ~ 150mm/s이다.

인터페이스 덕분에 측정 헤드시스템을 소프트웨어에 적용할 수 있다

센서를 모든 인터페이스에 혁신적으로 통합함으로써 사용자는 측정 헤드시스템을 소프트웨어에 받아 들이고 ZEISS CALYPSO의 익숙한 사용자 인터페이스를 통해 측정대상에서 측정 점을 파악할 수 있다. ZEISS는 이번 Control 박람회에서 처음으로 ZEISS DotScan을 장착한 ZEISS O-INSPECT를 소개하였다. 이 센서가 고객의 효율성을 확실히 높일 것으로 확신하기 때문에 앞으로 큰 반향이 일어날 것으로 기대하고 있다.